仪器介绍：
椭圆偏振法测量的原理很早就已提出，相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新，使得椭圆偏振法成为重要的测试手段，并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法最基本、最重要的应用之一 。
仪器特点：
●仪器采用消光式椭圆偏振方式测量
●精度高、自动控制
●光源采用氦氖激光，波长精度高
●仪器采用USB接口与电脑连接
●配套软件对采样数据具有多种处理方式，适用于不同需要
●软件有完整版及学生版两种版本，适于教学要求
技术指标：
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编号 |
名称 |
参数 |
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1 |
测量范围 |
1nm～4000nm |
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2 |
测量最小值 |
≤1nm |
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3 |
镀膜折射率范围 |
1.300～10.000 |
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4 |
入射角 |
40°～90° 误差≤0.05° |
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5 |
偏振器方位角读数范围 |
0°～180° |
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6 |
偏振器步进角 |
0.0375°/步 |
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7 |
测量精度 |
±0.5nm（10nm，±0.5nm） |
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8 |
光学中心高度 |
75mm |
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9 |
工作台直径 |
φ10mm～φ120mm |
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10 |
厚度 |
≤10mm |