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电脑化半导体器件特性测量
时间：2016-5-17
型号：改进型
主要技术参数及特点：
工作电压：AC220V±10%50Hz
测量精度：≤5%
外形尺寸：350×280×80mm
本仪器将传统的“半导体特性测试仪”浓缩成测试卡的形成，将其插入微机的扩展槽中，在软件的支持下实现对晶体三极管、场效应管、可控硅元件、二极管等半导体器件快速测量，并可把结果存盘或打印。
本仪器还设计了将测量数据二次数学处理的软件，使得测量时不仅能在屏幕上显示晶体管的输出、输入曲线，并且能自动显示不同电流下的电流放大倍数，跨导，二极管的理想因子，βIc 曲线等等。(微机自备)
备注：该仪器已为高校物理实验电子电工等实验室广泛采用。