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产品简介:
V-Sorb 2800P比表面积及孔径分析仪是金埃谱自主研发的比表面积及孔径分析仪器,采用静态容量法测量原理。相比国内同类比表面积及孔径分析仪,多项独创技术的采用使仪器整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类仪器先进水平,部分功能超越国外产品。金埃谱的比表面积及孔径分析仪设计更多从用户使用的角度出发,使V-Sorb 2800P比表面积及孔径分析仪具备了完全的自动化操作,操作界面人性化,简单易学;通过采用合资或进口零配件,大大提高了仪器可靠性和使用寿命。仪器整体设计上的完善和严格的产品制造和检测工序,确保仪器更加符合用户实际需求,同时V-Sorb 2800P比表面积及孔径分析仪的高性价比有效保障了用户的投资利益,灵活的仪器配置可满足不同用户的不同需求。
性能参数:
测试方法:氮吸附静态容量法;
产品特点:
A.真空系统
- 独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度;
- 模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换;
- 采用德国进口的双级真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能卓越,极限真空度高,可达4x10-2Pa (3x10-4Torr)。
B.控制系统
- 采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便;
- 独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染。
C.提高测试精度措施
- 采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜电容式压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15%,远远优于0.15%的全量程精度(FS)传感器;
- 与国外同类产品类似,采用0-1Torr和0-1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0-1Torr的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15%);
- 独创一体化集装式管路系统,采用进口集装管路显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;
- 独创步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
- 独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移。
D.数据采集及处理
- 采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;
- 多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理。
V-Sorb 2800P比表面积及孔径测试仪核心技术: 比表面积及孔径测试仪的真空系统密封性 | 为保证比表面积及孔径测试数据的准确性所采用的有效手段
应用领域:
1)超微粉体,纳米材料,颗粒及纤维状材料比表面积、孔径及孔隙率等分析测定;
2)粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测;
3)高校及科研单位材料研究测试,吸附科学及BET,BJH等理论教学实验;
4)电池材料,催化剂,添加剂,吸附剂,陶瓷烧结材料,磁性材料,储能材料等相关性能测定;
5)其它与材料表面性能相关的研究工作。
测试报告: