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DSA8300 数字采样示波器
时间:2016-1-22


概述:


DSA8300 是一款先进的等效时间采样示波器,为通信信号分析、串行数据网络分析以及串行数据链路分析应用提供最高的保真测量和分析功能。

关键性能指标
  • 超低时基抖动:
    • 在同时采集的最多 8 条通道上,典型值为 425 fs
    • 使用 82A04B 相位参考模块时,在最多 6 条通道上 <100 fs
  • 最佳的垂直分辨率 – 16 位模数转换器
  • 电接口分辨率: <20 μV LSB(适用于 1 V 全量程)
  • 光接口分辨率从 80C07B(1 mW 全量程)的 <20 nW 到 80C10C(30 mW 全量程)的 <0.6 μW
  • >80 GHz 的光接口带宽
  • 电接口带宽 >70 GHz
  • 为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能
  • 80 多种行业标准模板,自动进行模板测试
主要特点

各种光模块、电模块和配套模块可以满足您的特定测试要求。

  • 光接口模块
    • 全面集成光模块,支持155 Mb/s ~ 100 Gb/s的光数据速率
    • 经过认证的光接口参考接收机,支持标准规定必须进行的一致性测试指定的要求
    • 光带宽>80 GHz
    • 光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围,可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准
    • 经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗
    • 对采用这种出厂校准选项的模块,经过校准的消光比测量确保消光比测量在系统间的可重复性<0.5 dB
  • 电接口模块
    • 超低噪声电采样器(20GHz时280 μV, 60GHz时450 μV, 典型值)
    • 可以选择带宽1允许用户用采样器带宽和噪声换取最优的数据采集性能
    • 远程采样器2或紧凑的采样扩展模块电缆,采样器可以放在被测器件附近,使信号劣化达到最小
    • 高性能集成TDR (10 ps典型步进上升时间)支持杰出的阻抗不连续性检定,对50 GHz的S参数测量提供了高动态范围
  • 分析
    • 为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了一套完整的超过 120 种自动测量功能
    • 自动模板测试,支持80多种行业标准模板。 新模板可以导入DSA8300,支持各种新兴标准。 用户可以定义自己的模板,自动进行模板测试
    • 垂直和水平直方图,进行波形统计分析
    • 垂直光标、水平光标和波形光标(及测量)
    • 抖动、噪声、BER、模板测试和串行数据链路分析(SDLA)通过80SJNB Essentials和Advanced应用软件选项提供
    • 高级TDR分析、S参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能通过IConnect®应用软件选项提供
  • 高测试吞吐量
    • 每条通道高达 300 kS/s 的采样采集速率
    • 高效编程接口(IEEE-488、以太网或本地处理器接入)实现高测试吞吐量

1 使用 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 模块。

2 仅适用于 80E07B、80E08B、80E09B 和 80E10B。

应用
  • 设计/检验电信和数据通信器件和系统
  • ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造/一致性测试
  • 高性能真正差分 TDR 测量
  • 串行数据应用阻抗检定和网络分析,包括 S 参数
  • 高级抖动、噪声、BER和SDLA分析
  • 使用IConnect基于通道和眼图仿真和测量建模

杰出的性能,优异的通用性

DSA8300 数字串行分析仪为开发和测试采用几千兆位数据传输技术的通信、计算机和消费电子提供了用途最广泛的工具。 它可以用来对这些产品中使用的器件、模块和系统的光接口和电接口发射机进行检定及一致性测试检验。

此外,DSA8300 特别适合电接口信号路径检定,包括封装、PCB 或电缆。 由于杰出的带宽、信号保真度及可扩展性最强的模块化模块,DSA8300 为当前和新兴串行数据技术提供了 TDR 和互连分析能力、最准确的信号损伤分析能力以及 BER 计算功能。



光接口眼图测试




无源互连测试


最后,由于杰出的信号保真度和分辨率,对要求超高带宽、超精细垂直分辨率、低抖动和/或杰出时间间隔精度的电接口和光接口应用,DSA8300 提供了黄金标准。

DSA8300 拥有无可比拟的测量系统保真度及最低的基本仪器抖动本底(对 >1.25 Gb/s 的串行数据信号,典型值为 425 fs RMS),保证最准确地同时采集最多 8 个高带宽信号。 使用相位参考模块 (82A04B) 时采集抖动可低至 100 fs RMS,使分析效果更佳。

多处理器结构及每插槽专用数字信号处理器 (DSP) 提供了快速波形采集速率,缩短了进行可靠的检定和一致性测试所需的测试时间。

DSA8300 的通用模块化结构支持大量的且不断增加的插件,您可以为测量系统配置各种最适合您当前应用和未来应用的电接口模块、光接口模块和附件模块。 DSA8300 提供了 6 个模块插槽,可以同时容纳一个时钟恢复模块、一个精密相位参考模块和多个电接口或光接口采集模块,可以让系统性能与不断演变的需求相适应。 由于能够在不断电的情况下插拔采样模块,DSA8300(适用于固件版本为 6.1 及以上的示波器)可以根据测试需求变化,更加灵活地配置 DSA8300。

该电接口模块系列拥有业内领先的信号保真度,包括 20 GHz 到 >70 GHz 的带宽性能,光接口模块支持从 125 Mb/s 到 100 Gb/s 以上的光接口测试,提供了超过 80 GHz 的光接口带宽。 DSA8300 支持所有传统的 8000 系列电接口和光接口采样模块和附件。1

此外,专用模块配套功能,如单端和差分电学时钟恢复、电接口采样器静电保护及连接流行的 TekConnect® 探测系统,在高阻抗探测和差分探测中提供了一流的泰克探头性能。 另外,还提供用于 50 Ω 探测和 TDR 探测的低阻抗探头。

DSA8300 及相关应用软件完善的测量和分析功能进一步增强了 DSA8300 及其采样模块和附件的原始采集性能。 例如,IConnect® 应用软件为无源电接口互连(封装、印刷电路板、背板、电缆等)提供了完整的 TDR、S 参数和信号完整性分析,80SJNB 应用软件则为光接口和电接口串行数据链路提供了完整的抖动、噪声和误码率分析及通道和均衡分析和仿真功能。

1 DSA8300 不支持 80A06 码型同步模块,这一功能已经被 DSA8300 集成高级触发选项(选项 ADVTRIG)所代替。

抖动、噪声、BER和串行数据链路分析(SDLA)



抖动、噪声和 BER 分析


三种软件解决方案支持高速串行数据链路测量和分析: 80SJARB、80SJNB Essentials和80SJNB Advanced。1

  • 80SJARB (选项JARB)是一种能够测量任何波形上抖动的基本抖动测量工具,包括随机抖动或重复性抖动。 采集简单限制了可能的分析数量,因此只能使用基本(Dual Dirac)分解功能;可重复性与信号有关。
  • 80SJNB Essentials(选项 JNB)可以全面分析抖动、噪声和 BER,支持成分分解,可以清楚地了解信号的问题和余量。 可以使用模板测试分析目标BER时的系统性能。 在基于统计数据的模型上执行模板测试改善了整个系统性能评估的精度和可重复性。这种采集方式要求重复性码型。 精度和可重复性相对于80SJARB都得到改善,因为该工具可以访问完整的信号码型。
  • 80SJNB Advanced (选项JNB02)在80SJNB Essentials中增加了多种串行数据链路分析功能 – 夹具反嵌、通道仿真、FFE/DFE和CTLE均衡及预加重/去加重。

1 可以购买这些应用软件,安装在现有的带有 DSA83UP 升级套件的 DSA8300 示波器上。

SDLA 分析:SDLA Visualizer 和 JNB 信号路径

SDLA Visualizer 的先进功能现在完善了 JNB 的信号路径功能。 SDLA可视化器扩展了JNB信号路径的反嵌和通道仿真功能,它提供了完整的4端口反嵌和嵌入功能,不仅建立插入损耗的效应模型,还建立回波损耗和交叉耦合的效果应模型。 由于能够建立CTLE均衡模型,SDLA可视化器还补充了JNB中的DFE/FFE接收机均衡支持。

SDLA可视化器使用JNB Advanced中内置的信号路径滤波功能。在配置 SDLA Visualizer、选择所需的测试点、应用模型后,该应用程序会将选定测试点的滤波器自动加载到信号路径滤波器模块中。

如果要求 DFE 或 FFE 均衡,这些参数可以迅速输入 JNB 信号路径中,然后可以进行最终测量。

这些只是 SDLA Visualizer 提供的多种功能的部分实例。详情请参阅 SDLA Visualizer 产品技术资料:www.tektronix.com。

分析任意数据的抖动 (80SJARB)

DSA8300 系列使用的 80SJARB 抖动测量应用软件适用于要求 J2 和 J9 抖动测量的 IEEE 802.3ba 应用。它还可以对NRZ数据信号进行基本抖动测量,包括PRBS31、随机业务和加扰数据。这提供了一种入门级抖动分析功能,支持简单的 Dual Dirac 模型抖动分析,没有码型同步要求。

80SJARB 可在自由运行模式下连续采集数据,其采集和更新速率均超过了 IEEE 规定的 10,000 个数据点的最低要求。

它为测得数据和推断数据提供了抖动和眼图张度浴缸曲线,为采集数据提供了直方图。

80SJARB 抖动分析测量

测量

说明

J2 BER = 2.5e-3时的总抖动
J9 BER = 2.5e-10时的总抖动
Tj BER = 2.5e-12时的总抖动
DJdd 确定性抖动(Dual Dirac模型)
RJdd 随机抖动(Dual Dirac模型)

80SJNB模板测试结果

测量

说明

PDF模板 余量,命中率,测试通过/失败 水平位移可选
BER模板 余量,命中率,测试通过/失败 水平位移可选

80SJNB 抖动分析测量

测量 说明
TJ@BER 指定 BER 时的总抖动
J2 BER = 2.5e-3时的总抖动
J9 BER = 2.5e-10时的总抖动
RJ 随机抖动
RJ(h) 随机性抖动的水平分量
RJ(v) 随机抖动的水平成分
RJ(d-d) 根据 Dual Dirac 模型得出的随机抖动
DJ 确定性抖动
DDJ 数据相关抖动
DDPWS 数据相关脉宽收缩量
DCD 占空比失真
DJ(d-d) 在 Dual Dirac 模型中计算得出的确定性抖动
PJ 周期性抖动
PJ(h) 周期性抖动的水平成分
PJ(v) 周期性抖动的垂直成分
EO@BER 指定 BER 下水平眼图张开
BUJ 有界不相关抖动
NPJ 非周期性抖动(不相关,有界)
SSC 幅度 SSC 调制幅度,单位:ppm
SSC 频率 SSSC 调制频率,单位:ppm

80SJNB 噪声分析测量

测量 说明
RN 随机噪声
RN(v) 随机噪声的垂直成分
RN(h) 随机噪声的水平成分
DN 确定性噪声
DDN1 逻辑电平 1 上的数据相关噪声
DDN0 逻辑电平 0 上的数据相关噪声
PN 周期性噪声
PN(v) 周期性噪声的垂直成分
PN(h) 周期性噪声的水平成分
EO@BER 指定 BER 上的垂直眼图张开
BUN 有界不相关噪声
NPN 非周期性噪声

80SJNB Advanced (选项 JNB02)及SDLA可视化器

80SJNB Advanced(选项 JNB02) 支持:

  • 最高100阶FFE (前馈均衡),最高40阶DFE (判定反馈均衡),FFE和DFE及自动设置
  • 通道仿真 – 简单的“纯插入损耗”和 (采用SDLA可视化器)完整的级联全4端口及串扰
  • 滤波功能,支持从夹具反嵌到CTLE发射机均衡的线性滤波器

TDR(时域反射仪)应用



使用 80E10B 亚毫米分辨率和 IConnect® 真正阻抗轮廓,迅速识别问题的精确位置


DSA8300是业内性能最高的全集成时域反射计(TDR)测量系统之一。 提供高达50 GHz带宽、<15 ps反射上升时间和<12 ps入射上升时间的真正差分TDR测量1DSA8300让您跟上当今最苛刻的串行数据网络分析(SDNA)要求。

80E10B 和 80E08B TDR 模块拥有全面集成的独立双通道 2m 远程采样器系统,使夹具减到最小,保证了最优的系统保真度。独立采样器偏移校正技术保证快速简便地反嵌夹具和探头。通过使用一个差分模块的 TDR 阶跃驱动一个线对,同时使用第二个差分模块监测第二个线对,用户可以检定输入串扰。

DSA8300 是业内功能最齐全的 TDR 测量系统,包含至多 4 个双通道真正差分 TDR 模块,从而具有快速准确的多通道阻抗和 S 参数表征。

P80318 真正差分 TDR 探头和 P8018 单端无源手持式 TDR 探头为检定电路板阻抗和电接口信号提供了高性能探测解决方案。P80318 是一种 18 GHz 100 Ω 输入阻抗差分 TDR 手持探头,可以对差分传输线进行高保真阻抗测量。可以调节的探头间隙支持各种差分线路间距和阻抗。P8018 是一种 20 GHz 单端无源手持式 TDR 探头。P80318 和 P8018 都可以作为独立式探头使用,它们都采用专门设计,可以与 80A02 EOS/ESD 模块结合使用,提供 EOS/ESD 保护功能。

1 上升时间为10-90%。 80E10B连接器端的典型上升时间明显要快得多。

几千兆位信号路径检定和分析 – 串行数据网络分析 (SDNA)



串行数据网络分析


随着数字电路的时钟速率和上升时间不断提高,互连信号完整性对数字系统的性能影响非常大。 在时域和频域中对信号路径和互连进行准确高效的串行数据网络分析 (SDNA),对预测信号损耗、抖动、串扰、端接和振铃、数字误码和眼图劣化至关重要,以确保系统可靠运行。

泰克提供多个真正差分 TDR 模块,这些模块与 IConnect® 软件相结合,可以以高达 –70 dB 的动态范围进行 S 参数测量。 这种性能保证了在串行数据分析、数字设计、信号完整性和电接口一致性测试应用中进行准确的、可重复的测量。

装有 IConnect® 软件的 TDR 模块性能
TDR 模块 S 参数测量带宽性能
80E10B 50 GHz
80E08B 30 GHz
80E04 20 GHz

通过长记录长度采集技术,IConnect® 提供了巨大的灵活性,在执行 S 参数测量时获得了所需的频率范围和频率阶跃。 可以采集最多 1,000,000 点数据。

在结合使用 IConnect® 信号完整性 TDR 和 S 参数软件及 DSA8300 时,您可以获得高效、易用、经济的解决方案,基于测量数据评估几千兆位互连链路和器件的性能,包括信号完整性分析、阻抗、S 参数和眼图测试及故障隔离。

IConnect® 可以帮助您在几分钟内、而不是几天内完成互连分析任务,加快系统设计时间,降低设计成本。 IConnect® 还可以进行许多串行数据标准要求的阻抗、S 参数和眼图一致性测试,及对几千兆位互连进行全面的通道分析、Touchstone (SnP) 文件输出建模。

故障分析 – 迅速识别问题位置

80E10B及其<15 ps TDR反射上升时间提供了杰出的分辨率,可以在封装、电路板和片上故障分析应用中隔离故障。

IConnect® 信号完整性 TDR 和 S 参数软件

IConnect® S 参数软件在 DSA8300 TDR 平台上运行,为数字设计、信号完整性分析和互连一致性测试中的 S 参数测量提供了最经济、吞吐量最高的方式,与类似带宽的 VNA 相比,可以节约高达 50% 的成本,明显加快测量速度。

您还可利用 IConnect® S 参数软件的命令行界面,在使用 TDR 仪器进行的整套制造测试中自动进行 S 参数测量,明显缩短测试时间,提高测量可靠性。 可以使用参考源(开路、短路、直通)简便地校准 S 参数,并可以选配 50 Ω 负荷,轻松实现测量、夹具反嵌及移动参考平面。 Touchstone 文件格式输出可以简便地共享 S 参数文件,进一步进行数据分析和仿真。

泰克提供了多款真正差分 TDR 模块,这些模块与 IConnect® 相结合,提供了带宽高达 50 GHz 及动态范围 –70 dB 的 S 参数测量能力。 这一性能超越了串行数据分析、数字设计和信号完整性应用的要求,串扰解析精度达到 1% (–40 dB),而电接口一致性测试模板一般要求在 –10 至 –30 dB 的范围内进行测量。

IConnect® 软件可让您:

  • 直接从 TDR/T 或 VNA S 参数测量中,迅速简便地为 PCB、柔性电路板、连接器、电缆、封装、插座和 I/O 缓冲输入生成 SPICE 和 IBIS 模型。
  • 显示数字系统中的眼图恶化、抖动、损耗、串扰、反射和振铃。
  • 明显简化了互连链路的信号完整性分析、均衡和加重器件设计以及带有发射机和接收机的互连链路分析。
  • IConnect® Linear Simulator 可让设计人员把多条互连通道连接起来,评估整体时域和频域性能及整个通道的眼图。

如需进一步了解 IConnect® 应用软件,请参阅“IConnect® 信号完整性、TDR 和 S 参数 SW – 80SICMX ? 80SICON ? 80SSPAR”产品技术资料。

光接口测试应用测量和分析工具

DSA8300 为满足光接口测试应用专门设计的各种测量和分析工具。除标准幅度和定时参数测量外(如上升时间/下降时间、幅度、RMS 抖动、RMS 噪声、频率、周期等)外,DSA8300 的测量套件还包括为测量光接口信号订制的测量(平均光接口功率、消光比、眼图高度、眼图宽度、光接口调制幅度 (OMA)、等等)。如需完整的测量清单,请参阅本产品技术资料的测量部分。

DSA8300 包括从 155 Mb/s 至 100 Gb/s 所有常用光接口标准的标准一致性测试模板。DSA8300 模板测试系统能够自动把标准模板和用户模板拟合到采集进波形数据库中的数据。模板测试系统还可以基于模板违例总数或模板违例相对于模板测试单位间隔中采集的样点数的比率,自动确定模板余量。用户还可以创建定制模板,自动进行模板测试。另外还提供了直方图和光标测量,分析 DSA8300 采集的光接口信号。

最后,80SJNB 应用软件支持全面分析光接口信号的抖动、噪声和 BER。 80SJNB扩展了DSA8300模板测试功能,包括在PDF (概率密度函数)和CDF (累积分布功能)空间中的统计模型上进行模板测试。 这种方法更加准确,因为测试在更大的、统计更相关的样本上进行,其时间量要比传统模板测试短。 这一软件的高级版本(选项JNB02)支持在损伤信号上进行模板测试及评估加重和均衡。

采样模块

高速光接口测试解决方案

DSA8300 拥有高度可配置的主机和各种光接口模块,为 125 Mb/s 至 100 Gb/s 以上应用提供了完整的高保真光接口测试解决方案。这些模块涵盖了单模光纤和多模光纤的各种波长。每个模块可以选配多个可选择的光接口参考接收机 (ORR) 滤波器和/或一条全带宽路径。每个模块还支持全面校准的时钟恢复解决方案(可以集成到模块中,或通过数据捡拾发送到外部时钟恢复模块或独立式时钟恢复仪器)。

请参阅“光接口采样模块”表,本表简要介绍了泰克提供的每个光接口采样模块。请参阅“光接口采样模块选型指南”表,了解每个模块主要指标。如需与这些模块有关的更完整的信息,请参阅光采样模块 – 80C07B ? 80C08D ? 80C10C ? 80C11B ? 80C12B? 80C14 ? 80C15产品技术资料。

光接口采样模块
模块 说明
80C07B 多速率数据通信和电信模块 80C07B 模块是为测试 125 Mb/s 至 2.5 Gb/s 数据通信/电信信号优化的宽波长(700 至 1650 nm)多速率光接口采样模块。由于放大光电转换器设计,这种模块提供了完美的信噪比性能,允许用户考察低能耗光接口信号。80C07B 可以选配经过全面校准的内部时钟恢复功能,支持 125、155、622、1063、1250、2125、2488、2500 和 2666 Mb/s 速率。
80C08D 多速率、宽波长、高灵敏度 10 Gb/s 模块 80C08D 模块是一种宽波长(700 至 1650 nm)多速率光接口采样模块,为 10GbE、40GbE-R4 和 9.953、10.3125、11.0957 Gb/s 的 100GbE-SR10 应用以及 10.51875 和 11.317 Gb/s 的 10G 光纤通道应用提供了数据通信速率测试功能。80C08D 还提供了 9.953、10.664 和 10.709 Gb/s 的电信速率测试功能。由于放大光电转换器设计,这一模块提供了杰出的信噪比性能和高光学灵敏度,允许用户考察低能耗光接口信号。80C08D 可以选配集成时钟恢复选项,支持以9.8 ~ 12.6 Gb/s的任何标准速率或用户指定速率采集信号。
80C10C 多速率数据通信和电信模块 40 Gb/s 和 100 Gb/s 80C10C 模块提供集成的、可以选择的参考接收机滤波,可以在所有标准的 25、40 和 100 (4 x 25) Gb/s 标准速率下,在 1310 nm 或 1550 nm 上执行一致性测试。80C10C 的三种配置:
选项 F1:为下述速率(标准)提供满足标准的光学参考接收机:
  • 25.781 Gb/s(100GBase-LR4 和 100GBase-ER4)
  • 27.952 Gb/s (OTU4)
  • 39.813 Gb/s(OC-768/STM-256、VSR2000 G.693、40G NRZ G.959.1)
  • 41.25 Gb/s (40GBase-FR)
  • 43.018 Gb/s(G.709 FEC、OTU3 4×10G LAN PHY)

选项 F2:为下述速率(标准)提供满足标准的光学参考接收机:
  • 25.781 Gb/s(100GBase-LR4 和 100GBase-ER4)
  • 27.952 Gb/s (OTU4)

选项 F3:为下述速率(标准)提供满足标准的光学参考接收机:
  • 39.813 Gb/s(OC-768/STM-256、VSR2000 G.693、40G NRZ G.959.1)
  • 41.25 Gb/s (40GBase-FR)
  • 43.018 Gb/s(G.709 FEC、OTU3 4×10G LAN PHY)

除滤波器速率外,用户还可以为 80C10C 选择带宽,实现最优的噪声对带宽性能,准确检定信号。在配备选项 CRTP 时,电接口恢复提供电接口信号捡拾功能。80C10C 28.6 Gb/s 以下的时钟恢复使用 CR286A 时钟恢复仪器(单独销售)提供。
配备选项 HSPR 时,单独的高灵敏度照片接收机和独立的电接口输出一同提供,可用于外部设备(如 Tektronix BERTScope),实现高精度的光接口测量。
80C10C 还可以在捆绑订购的配置中选配提供,该捆绑套件包括单通道 70+ GHz 电接口采样模块。
80C11B 多速率 10 Gb/s 数据通信和电信模块 80C11B 模块是为测试 9.953、10.3125、10.51875、10.664、10.709、11.0957、11.317 和 14.025 Gb/s 的 10 Gb/s 数据通信和电信标准速率而优化的一种宽波长(1100 至 1650 nm)多速率光接口采样模块。由于高达 30 GHz(典型值)的高光接口带宽,它特别适合通用的高性能 10 Gb/s 光接口器件测试。80C11B 可以选配时钟恢复功能,支持 9.8 至 12.6 Gb/s 连续范围内的任何标准速率或用户自定义速率。
80C12B 多速率数据通信和电信模块 80C12B 模块是一种宽波长 (700 ~ 1650 nm) 多速率光接口采样模块,为 155 Mb/s ~ 11.4 Gb/s 标准提供了电信和数据通信测试功能。这种模块异常灵活,可以配置成支持各种 10 Gb/s 应用、数据速率较低的应用 (155 Mb/s ~ 7.4 Gb/s) 或 10G 标准与数据速率较低标准的组合。
低数据速率应用包括:155 ~ 2666 Mb/s、1G、2G、和 4G 光纤通道、多路标准应用,如 10GBASE-X4 和 4 路 10 Gb/s 光纤通道以及 Infiniband SDR 和 DDR 速率。
支持的 10 Gb/s 应用包括数据通信标准和电信标准。支持的 10 Gb/s 数据通信应用包括 9.953、10.3125、11.0957 Gb/s 的 10GbE、40GbE-R4、100GbE-SR10 应用以及 10.51875 Gb/s 和 11.317 Gb/s 的 10G 光纤通道应用。80C12B 还提供 9.953、10.664 和 10.709 Gb/s 的电信速率测试功能。
由于放大的光电转换器设计,这一模块提供了完美的信噪比性能和高光学灵敏度,允许用户考察低能耗光学信号。80C12B 时钟恢复功能使用 80A05 模块或 CR125A 时钟恢复仪提供(单独销售)。
80C14 多速率数据通信和电信模块 80C14 模块是一种宽波长(700 至 1650 nm)多速率光接口采样模块,提供了 8G、10G 和 16G 电信和数据通信测试功能。支持的 10 Gb/s 数据通信应用包括:速率为 9.953、10.3125 和 11.0957 Gb/s 的 10GbE、40GbE-R4、100GbE-SR10 应用。光纤通道应用包括:8.500、10.51875、11.317、14.025 和 14.063 Gb/s。80C14 还提供了 9.953、10.664、10.709 和 12.5 Gb/s 电信速率测试功能。
由于放大的光电转换器设计,这一模块提供了完美的信噪比性能,允许用户考察低能耗光学信号。80C14 的时钟恢复功能由 CR175A 或 CR286A(单独销售)提供。
80C15 80C15 模块提供集成的、可以选择的参考接收机滤波功能,可以在 850 nm、1310 nm 或 1550 nm 波长上对所有 25 ~ 32 Gb/s 标准速率执行单模和多模光接口信号一致性测试。此模块为以下速率(标准值)提供带宽滤波器:
- 25.781 Gb/s(100GBase-ER4、100GBase-LR4、100GBase-SR4、Infiniband EDR)
- 27.952 Gb/s (OTU4)
- 28.050 Gb/s(32G 光纤通道)
除滤波速率外,用户还可以为80C15选择带宽,优化噪声与带宽性能,准确地检定信号。
80C15选项CRTP提供了第二个高灵敏度光输入,为时钟恢复功能或误码检测功能驱动时钟恢复触发捡拾(CRTP)电差分输出。
光接口采样模块选型指南
特征 80C07B1 80C08D 80C12B2选项 F0~F12 80C12B 2选项 10G/10GP 80C14 80C11B 80C15 80C10C3选项 F1 80C10C 3选项 F2 80C10C 3选项 F3
波长范围 (nm) 700~1650 700~1650 700~1650 700~1650 700~1650 1100~1650 700~1650 1290~1330
1520~1620
1290~1330
1520~1620
1290~1330
1520~1620
未滤波的光接口带宽 (GHz) 2.5 12.5 124 12 4 12 30 32 70 55 80
滤波器输入 (μm) 9, 50, 62.5 9, 50, 62.5 9, 50, 62.5 9, 50, 62.5 9, 50, 62.5 9 9, 50, 62.5 9 9 9
模板测试灵敏度 (dBm) –22 –165 –19 –15 –15 –9 –9 –86 –8 6 –8 6
支持的光接口参考接收机
155 mb/s
622 mb/s
1.063 Gb/s
1.250 Gb/s
2.125 Gb/s
2.488 Gb/s
2.500 Gb/s
2.66 Gb/s
3.125 Gb/s
3.188 Gb/s
4.250 Gb/s
5.000 Gb/s
6.144 Gb/s
7.373 Gb/s
8.500 Gb/s
9.953 Gb/s
10.31 Gb/s
10.51 Gb/s
10.66 Gb/s
10.71 Gb/s
11.1 Gb/s
11.3 Gb/s
14.025 Gb/s
14.063 Gb/s
25.78 Gb/s
27.74 Gb/s
28.05 Gb/s
39.81 Gb/s
41.25 Gb/s
43.02 Gb/s

1 若要详细了解 80C07B 支持的特定参考接收器分组情况,请参阅“80Cxx 光接口模块”产品技术资料。

2 若要详细了解 80C12B 支持的特定参考接收器分组情况,请参阅“80Cxx 光接口模块”产品技术资料。

3 80C10C 时钟恢复触发捡拾(选项 CRTP)可以支持 >43 Gb/s 数据速率的触发捡拾。

4 80C12B 全部 12 GHz 带宽只在选项 F0、10G 或 10GP 中提供。

5 对内部时钟恢复选项,80C08D 的模板测试灵敏度会下降 1 dBm 左右。

6 对内部时钟恢复触发捡拾(选项 CRTP),80C10C 的模板测试灵敏度会下降 0.6 dBm 左右。

光接口测试的时钟恢复

在许多光接口应用中,没有直接的数据时钟提供参考信号,以便从被测器件中采集信号。在这些情况下,必需从数据信号中恢复时钟。泰克 8000 系列采样示波器产品提供了一套完整的时钟恢复解决方案,满足了这一需求。每个解决方案都经过全面校准,用户不需进行任何手动系统校准,来考虑由于发送到时钟恢复单元输入的数据捡拾而导致的任何损耗。

下面的选型指南列明了时钟恢复解决方案及每种解决方案的主要指标,帮助您选择最适合自己应用的解决方案。详细指标请参阅“80Cxx 光接口采样模块”产品技术资料(集成到 80C07B、80C08D 或 80C11B 的时钟恢复选项),独立时钟恢复模块或仪器请阅相应的产品技术资料。

注:独立式时钟恢复模块/仪器拥有电接口输入,可以用来从电接口信号及 80CXX 系列光接口采样模块的电接口数据捡拾输出中恢复时钟。

注:时钟恢复功能集成到光接口模块中,可以从 8000 系列示波器的“触发设置”菜单中控制。

集成时钟恢复选项
特征 80C07B 80C08D 选项 CR4 80C11B 选项 CR3 80C11B 选项 CR4
连续可变速率范围 (Gb/s) 固定速率 9.8 ~ 12.6 固定速率 9.8 ~ 12.6
时钟恢复灵敏度 (dBm)1 –22 –15 –9 –9
支持的标准速率
125, 155 Mb/s
622 Mb/s
1063 Mb/s
1250 Mb/s
2125 Mb/s
2488, 2500 Mb/s
9.95 Gb/s
10.31 Gb/s
10.52 Gb/s
10.66 Gb/s
10.71 Gb/s
11.10 Gb/s
11.30 Gb/s
14.025 Gb/s
14.063 Gb/s
25.78 Gb/s
27.74 Gb/s
独立式(电接口)时钟恢复模块/仪器
特征 80A05 Std.2 80A05 选项 10G2 CR125A3 CR175A 3 CR286A 3
连续可变速率范围 (Gb/s) 50 ~ 3.188
4.25
50 ~ 3.188
3.267 ~ 4.25
4.900 ~ 6.375
9.8 ~ 12.6
0.1 ~ 12.5 0.1 ~ 17.5 0.1 ~ 28.6
时钟恢复灵敏度 (mVp-p4 ≤15 ≤15 15 15 15
可调节时钟恢复环路带宽和峰值5
支持的标准速率
125, 155 Mb/s
622 Mb/s
1063 Mb/s
1250 Mb/s
2125 Mb/s
2488, 2500 Mb/s
2.66 Gb/s
3.125、3.188 Gb/s
4.25 Gb/s
5.00 Gb/s
6.14 Gb/s
7.37 Gb/s
8.5 Gb/s
9.95 Gb/s
10.31 Gb/s
10.52 Gb/s
10.66 Gb/s
10.71 Gb/s
11.10 Gb/s
11.30 Gb/s
12.50 Gb/s
14.025 Gb/s
14.063 Gb/s
25.78 Gb/s
27.74 Gb/s

1 差分输入的电接口时钟恢复灵敏度随输入时钟速率的不同而变化。详情请参阅时钟恢复产品技术资料。

2 时钟恢复模块插入 8000 系列示波器的大模块插座中,可以从“触发设置”菜单中控制。

3 独立式时钟恢复仪器;可以从 BERTScope 时钟恢复仪器控制软件中控制,可以从 8000 系列示波器的“应用”菜单中接入。

4 差分输入的电接口时钟恢复灵敏度随输入时钟速率的不同而变化。详情请参阅时钟恢复产品技术资料。

5 如需进一步了解时钟恢复环路带宽和峰值,请参阅时钟恢复产品技术资料。

高性能电接口测试解决方案

DSA8300 还特别适合各种高性能电接口应用。由于模块化系统,用户可以为 DSA8300 配置最适合其要求的各种电接口模块。下表列出了 DSA8300 目前使用的电接口采样模块的主要指标,以帮助您为自己的应用选择最合适的电接口模块。详细指标请参阅“80E00 电接口采样模块”产品技术资料。

电接口采样模块选型指南
特征 80E01 80E03 80E07B 80E09B 80E11、80E11X1 80E04

(TDR 模块)

80E08B

(TDR 模块)

80E10B

(TDR 模块)

通道 1 2 2 2 2 (80E11)1 (80E11X1) 2 2 2
带宽 50 GHz 20 GHz 20/30 GHz(用户可选择) 30/40/60 GHz(用户可选择) 40/60/70 GHz (用户可以选择) 20 GHz 20/30 GHz(用户可选择) 30/40/50 GHz(用户可选择)
全部带宽时的阶跃响应 (10-90%) 7 ps 17.5 ps 11.7 ps 5.8 ps 5.0 ps 17.5 ps 11.7 ps 7 ps
RMS 噪声 1.8 mV 600 μV 20 GHz 时为 280 μV
30 GHz 时为 300 μV
30 GHz 时为 300 μV
40 GHz 时为 330 μV
60 GHz 时为 450 μV
40 GHz 时为 330 μV
60 GHz 时为 450 μV
70 GHz 时为 950 μV
600 μV 20 GHz 时为 280 μV30 GHz 时为 300 μV 30 GHz 时为 300 μV
40 GHz 时为 370 μV
50 GHz 时为 600 μV
入射TDR步进上升时间(10-90%),典型值 - - - - - 23 ps 18 ps 12 ps
反射TDR步进上升时间(10-90%),典型值 - - - - - 28 ps 20 ps 15 ps
远程采样功能 带有选配的 80X01 或 80X02 延长电缆 带有选配的 80X01 或 80X02 延长电缆 全面集成 2 m 远程电缆 全面集成 2 m 远程电缆 带有选配的 80X01 或 80X02 延长电缆 带有选配的 80X01 或 80X02 延长电缆 全面集成 2 m 远程电缆 全面集成 2 m 远程电缆
S 参数特征 (80E10B)
  • 所有测量均在 DSA8300 手册规定的正确预热时间之后进行
  • 使用标准 S 参数动态范围测量方法,确定模块的动态范围
  • 不确定结果从各种器件中导出,平均 250 次
  • 通过在 80E10 模块上选择较低的带宽设置,可以实现更好的动态范围,因为 RMS 噪底较低
  • 结果适用于单端测量或差分测量

80E10B 动态范围


80E10B 不确定度

符合 100 GB/S (4 X 25 GB/S) 电气标准的测试解决方案

随着高带宽应用日益广泛,对高数据速率电气器件、模块及系统进行测试的需求激增。例如,CEI 3.0 VSR-28 接口就是高数据速率组件。该接口通过多条电气通道以最高 28.6 Gb/s 的速率传输数据。这样传输的信号对用于采集和分析被测器件的测试和测量设备提出了很大的性能挑战。

这些挑战包括:

  • 需要采集具有出色信号保真度的信号 - 对于测试仪器来说,这个要求有以下几个含意:
    • 低仪器噪声
    • 低仪器抖动
    • 需要尽可能靠近 DUT 来采集信号 - 从而减少信号衰减和潜在的码间干扰
  • 需要从数据流恢复时钟,以便采集被测信号以及对这些信号进行详细分析。

采用模块化架构的 DSA8300 及其相关模块和附件提供了对多通道高位速率信号进行完整测试所需的全部组件。为了简化用于测试此类设备的系统的配置,泰克提供了以下产品捆绑套件:

80B28G - DSA8300 产品捆绑套件,适合于 28 GB/S 的应用

与 DSA8300 一起使用时,这个捆绑套件提供以每通道 10 Gb/s 至 28.6 Gb/s 的速率测试应用所需的所有电接口采样模块、附件以及时钟恢复功能。这个捆绑套件包括以下产品:

  • 1 ea.80E09B:双通道 70 GHz 远程电接口采样模块
  • 1 ea.82A04B:相位参考模块,与 80E09B 一起使用时支持小于 100 fs 的仪器抖动
  • 1 ea.CR286A:28.6 GHz 时钟恢复仪器,支持速率为 150 Mb/s 至 28.6 Gb/s 的时钟恢复
  • 1 ea.80X01:1 米采样模块延长电缆,用于将相位参考模块直接连接到时钟恢复模块
  • 1 ea.80A08:附件包,包括配置完整的测试解决方案必需的所有电缆、适配器、直流模块及其他附件

要将此解决方案扩展为可测试多通道应用中的其他通道,只需额外安装 80E09B 双通道远程采样模块。



技术数据:



技术规格

本文中的产品规格和描述如有变更,恕不另行通知。

垂直系统
上升时间/带宽取决于使用的采样模块垂直分辨率

在采样模块的动态范围内 16 位

电接口分辨率: <20 μV LSB(适用于 1 V 全量程)

光接口分辨率视光接口模块的动态范围而定,从 80C07B(1 mW 全量程)的 <20 nW,到 80C10C(30 mW 全量程)的 <0.6 μW

水平系统
主时基和放大视图时基,水平量程100 fs/div - 1 ms/div,1-2-5 顺序或 100 fs 增量时间间隔精度触发直接(前面板)输入

水平量程为 >20 ps/div,测量间隔最右面的点 <150 ns;平均精度: 0.1% 的间隔,STDEV: ≤1 ps

水平量程 ≤20 ps/div,测量间隔最右面的点 <150 ns;平均精度: 1 ps + 0.5% 的间隔

时钟输入/预定标触发(前面板),眼图或码型模式平均精度取决于时钟输入精度 STDEV: <0.7 ps(最大值);<0.1 ps(典型值)时钟输入/预定标触发(前面板),其他模式

水平量程为 >20 ps/div,测量间隔最右面的点 <150 ns;平均精度: 0.1% 的间隔,STDEV: ≤3 ps

水平量程 ≤20 ps/div,测量间隔最右面的点 <150 ns;平均精度: 1 ps + 0.5% 的间隔

TDR 时钟触发(锁定到外部 10 MHz 时钟)水平量程为 >20 ps/div,测量间隔最右面的点 <150 ns;平均精度: 0.01% 的间隔,STDEV: ≤1 ps(0.1 ps 典型值)随机相位修正模式(时钟输入到 82A04B)

最大定时偏差:0.1% 的相位参考信号周期,典型值,相对于相位参考信号

如需进一步了解相位参考运行模式,请参阅“DSA8300 采样示波器的相位参考模块”产品技术资料。

触发的相位修正模式(时钟输入到 82A04B)

相对于相位参考信号的最大定时偏差:

>40 ns,触发事件之后: 0.2% 的相位参考信号周期,典型值

≤40 ns,触发事件之后: 0.4% 的相位参考信号周期,典型值

提供的水平偏移校正范围

任何单独通道上,–500 ps 至 +100 ns,增量为 100 fs

仅校正主机插槽偏移: 80E07B、80E08B、80E09B、80E10B、80E11 和 80E11X1 远程采样模块包括额外的通道偏移校正范围。

DSA8300 记录长度50、100、250、500、1000、2000、4000、8000 或 16000 个样本(放大视图的最大记录长度为 4000 个样本)提供的更长记录

IConnect®: 1M 样本

80SJNB 抖动、噪声和 BER 分析软件: 10M 样本(100k 单位间隔,每个单位间隔 100 个样本)

触发系统
触发源

时钟输入/预定标触发(前面板)

TDR 时钟(内部生成)

来自光接口采样模块和电接口时钟恢复模块(内部连接)的时钟恢复触发

相位参考(在使用 82A04B 相位参考模块时)时基在自由运行模式下支持无触发信号采集

触发直接输入(前面板)

时钟输入/预定标触发输入时钟输入灵敏度

100 mVp-p,0.15 至 20 GHz(典型值)

200 mVp-p,0.15 至 15 GHz(保证值)

最小偏移速率≥2 V/ns时钟输入范围1.0 Vp-p(最大值) – AC 耦合支持的码型长度(对 ADVTRIG 选项的码型触发)2 至 223 (8,388,608)(含边界)时钟眼图和时钟码型触发模式下的时钟输入抖动(典型值)

0.15 - 0.40 GHz: 900 fs (RMS)

0.40 - 1.25 GHz: 800 fs

1.25 - 20 GHz: 425 fs

时钟眼图和时钟码型触发模式下的时钟输入抖动(最大值)

0.80 - 1.25 GHz: 900 fs (RMS)

1.25 - 11.20 GHz: 500 fs

11.20 - 15.0 GHz: 600 fs

TDR 触发TDR 阶跃速率

可以在 25 至 200 kHz 中选择,1 kHz 步长

实际 TDR 阶跃速率可能会较请求的速率变化达 2%

TDR 触发抖动1.3 ps RMS(典型值)1.8 ps RMS(最大值)相位参考时基相位参考输入范围

标配 82A04B: 8 - 32 GHz(保证值),2 - 32 GHz(典型值)

82A04B 选项 60G: 8 - 60 GHz(保证值),2 - 70 GHz(典型值)

对 <8 GHz 的时钟频率,可能必需滤波时钟输入,以消除时钟信号中的谐波(请参阅附件 020-2566-xx、020-2567-xx 和 020-2568-xx)

相位参考输入灵敏度到 82A04B 的时钟输入在下述范围内提供了最佳的抖动性能: 0.6 - 1.8 V。相位参考时基直到 100 mV(典型值)仍能运行,但抖动会提高抖动

f ≥8 GHz: 100 fs RMS,10 GHz 或更快的采样模块上的典型值

2 GHz ≤ f ≤ 8 GHz: 140 fs RMS,10 GHz 或更快的采集模块上的典型值

对 <8 GHz 的时钟频率,可能必需滤波时钟输入,以消除时钟信号中的谐波(请参阅附件 020-2566-xx、020-2567-xx 和 020-2568-xx)

触发直接输入触发灵敏度

50 mV,DC - 4 GHz(典型值)

100 mV,DC - 3 GHz(保证值)

触发电平范围±1.0 V触发输入范围±1.5 V触发释抑5 μs - 50 ms 可调节,0.5 ns 增量触发直接输入抖动

1.1 ps RMS + 5 ppm 的水平位置(典型值)

1.5 ps RMS + 10 ppm 的水平位置(最大值)

采集系统
采集模式采样(普通)、包络和平均采样模块数量

支持最多 4 个双通道电接口采样模块;最多 2 个光接口采样模块。

在 CH1/CH2 大插槽中装入要求电源的模块之外的任何模块时,只会置换 CH1/CH2 小槽的功能;在 CH3/CH4 大插槽中装入要求电源的模块之外的任何模块时,只会置换 CH3/CH4 小槽的功能。

同步采集的输入数量最多 8 条通道最大采集速率

在 TDR 模式下每条通道 300 kS/s

在所有其他非相位参考模式下每条通道 200 kS/s

在相位参考模式下每条通道 120 kS/s

波形测量
系统测量速率DSA8300 同时进行最多 8 项测量,在选配显示每项测量的统计数据(最小值、最大值、平均值和标准值偏差)时,每秒更新 3 次测量集120 多种自动测量,包括 RZ、NRZ 和脉冲信号类型以及下述测量类型:幅度测量高、低、幅度、峰峰值、最大值、中间值、最小值、平均值、正向过冲、负向过冲、P-P、平均光接口功率(dBm、瓦)、噪声、RMS 噪声、SNR、眼图高度、眼图张度因数、消光比(比率,%,dB)、抑制比(比率,%,dB)、OMA、Q-因数、RMS、AC RMS、周期 RMS、周期平均、增益、交叉 %、交叉电平定时测量上升时间、下降时间、周期、位速率、位时间、频率、交叉时间、+交叉、–交叉、抖动(P-P、RMS)、眼图宽度、+Width、–Width、突发脉冲宽度、正占空比、负占空比、占空比失真、延迟、相位、脉冲对称性面积测量面积、周期面积光标光点、竖条和横条光标波形处理使用下述数学函数定义定义和显示最多 8 个数学运行波形: 加法、减法、乘法、除法、平均、差分、指数、积分、自然对数、对数、幅度、最小值、最大值、平方根和滤波。 此外,可以在定义数学运算波形时把测量值作为标量使用模板测试对许多应用,泰克以预先定义的内置模板方式提供了标准模板。下面的受支持标准列表中列出了多种最常用的标准模板。请与泰克本地代表联系,索取所有可用模板的列表。除另行指明外,可以使用基于文件的模板,作为固件可加载的文件分发新模板、泰克出厂时创建的模板和更新的模板。用户自定义模板允许用户创建(通过 UI 或 PI)用户模板支持的标准
类型 标准
以太网 100BASE-LX10 125.0 Mb/s100BASE-BX10 125.0 Mb/s
千兆以太网 1.250 Gb/s
1000BASE-KX 1.250 Gb/s
2 GBE 2.500 Gb/s 10GBASE-X4 3.125 Gb/s
10GBASE-W 9.95328 Gb/s
10GBASE-R 10.3125 Gb/s
FEC11.10 11.095728 Gb/s
10GBASE-LRM 10.31250 Gb/s
40GBASE-FR 41.25 Gb/s
40GBASE-LR4 10.3125 Gb/s
40GBASE-SR4 10.3125 Gb/s
100GBASE-ER4 25.71825 Gb/s
100GBASE-LR4 25.71825 Gb/s
100GBASE-SR10 10.3125 Gb/s
100GBASE-SR4 25.7185 Gb/s
SONET/SDH OC-1/STM-0 51.84 Mb/s
OC-3/STM-1 155.52 Mb/s
OC-12/STM-4,622.08 Mb/s
OC-48/STM-16 2.48832 Gb/s
FEC2.666 2.6660571 Gb/s
OC-192/STM-64 9.95328 Gb/s
FEC10.66 10.6642 Gb/s
FEC10.71 10.709225 Gb/s
OTU4 27.95 Gb/s
OC-768/STM-256 39.81312 Gb/s
FEC42.66 42.6569 Gb/s
FEC43.02 43.018414 Gb/s
光纤通道光接口 FC133 132.81 Mb/s
FC266 265.6 Mb/s
FC531 531.2 Mb/s
FC1063 1.0625 Gb/s
FC2125 2.125 Gb/s
FC4250 4.250 Gb/s
8GFC 8.500 Gb/s
10GFC 10.518750 Gb/s
FC11317 11.3170 Gb/s
16GFC MM r6.1 14.025 Gb/s
16GFC SM r6.1 14.025 Gb/s
32GFC 28.05 Gb/s
光纤通道电接口 FC133 132.81 Mb/s
FC266 265.6 Mb/s
FC531 531.2 Mb/s
FC1063 1.0625 Gb/s
FC2125E 2.125 Gb/s: Abs、Beta、Tx/Rx;Abs、Gamma、Tx/Rx
FC4250E 4.250 Gb/s: Abs、Beta、Tx/Rx;Abs、Gamma、Tx/Rx
FC8500E 8.500 Gb/s: Abs、Beta、Tx/Rx;Abs、Gamma、Tx/Rx
SATA G1 1.500 Gb/s Tx、Rx
G2 3.000 Gb/s Tx、Rx
G3 6.000 Gb/s Tx、Rx
显示器系统
触摸屏显示器对角线长度 264 毫米/10.4 英寸,彩色,LCD颜色16,777,216(24 位)视频分辨率水平 1024 像素 x 垂直 768 像素放大视图除主时基外,DSA8300 支持两种放大视图。 这些放大视图使用单独的时基设置独立采集,支持与主时基相同或更快的时间/格设置
输入输出端口
前面板USB 2.0 端口一个 USB 2.0 连接器(2012 年 12 月之后毛重的仪器在其前面板上配有 3 个 USB 端口)防静电连接香蕉插孔连接器,1 MΩ触发直接输入参阅触发系统技术数据时钟输入/预定标触发参阅触发系统技术数据TDR 时钟输出参阅触发系统技术数据DC 校准输出最大 ±1.25 V后面板USB 端口4 个 USB 2.0 连接器LAN 端口RJ-45 连接器,支持 10/100/1000BASE-T串行端口DB-9 COM1、COM2 端口GPIBIEEE488.2 连接器DVI-I 视频端口

DVI 连接器,插座式

连接显示示波器画面,包括外部监视器或投影仪上的实时波形。 还可以使用这些端口在外部监视器上显示一级 Windows 桌面。

也可以把 DVI-I 端口配置为显示二级 Windows 桌面(也称为扩展桌面或双监视器显示)。

提供 DVI 到 VGA 15 针 D-Sub 连接器适配器

PS2 串行端口鼠标和键盘输入音频端口1/8 英寸麦克风输入和线路输出
数据存储
波形数据库4 条独立累积的波形记录,每条记录高达 4M 波形点。 可变波形数据库模式,支持真正先进先出,4 个波形数据库中每个波形数据库提供了最多 2000 个波形(每个波形数据库最高 2M 样本)硬盘后面板、可移动硬盘,500 GB 容量光盘驱动器前面板 DVD 只读/光盘读写驱动器,带有光盘制作应用软件非易失性存储USB 2.0 闪存
计算机系统
操作系统Microsoft Windows 7 旗舰版(32 位)CPU3 GHz Intel Core? 2 Duo CPU
电源
线路电压和频率

90 V 至 250 V

50 Hz 至 400 Hz

功耗

205 W,典型值,仅限主机

330 W,典型值,完全加载

最大 600 W

物理特点
尺寸
毫米 英寸
宽度 475 18.0
高度 343 13.5
厚度 419 16.5
公斤
重量 21 46
EMC、环境和安全
温度工作状态+10 至 +40℃非工作状态-22 至 +60℃海拔高度工作状态3,048 m (10,000 ft.)非工作状态12,190 m (40,000 ft.)相对湿度操作(未安装 CD-ROM)40℃ 及以下时 20% 至 80%(40℃ 时相对湿度上限下降至 45%)电磁兼容性2004/108/EC安全性UL3111-1、CSA1010.1、EN61010-1、IEC61010-1


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